Podstawy krystalografii 310-CS1-2PKR
Wykład:
1. Kryształ definicja i przykłady. Symetria kryształów, operacje symetrii, typy sieci 2D i 3D, układy krystalograficzne, sieci Bravais’go.
2. Prosta sieciowa, płaszczyzna sieciowa, indeksy - notacja. Sieć rzeczywista – sieć odwrotna; relacja geometryczna.
3. Elementy symetrii – wyprowadzenie macierzy przekształcenia. Charakterystyka prostych i złożonych elementów symetrii – symbolika. Rzut stereograficzny – grupy punktowe.
4. Translacyjne elementy symetrii, grupy przestrzenne – nomenklatura, tablice krystalograficzne, prawa krystalografii.
5. Wytwarzanie promieniowania rentgenowskiego oraz jego detekcja, charakterystyka, oddziaływanie z materią.
6. Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na kryształach. Prawo Braggów-Wulfa. Wstępna analiza dyfraktogramów proszkowych.
7. Czynnik struktury, atomowy czynnik rozpraszania, reguły wygaszeń systematycznych, wybrane struktury pierwiastków chemicznych.
Rodzaj przedmiotu
Tryb prowadzenia przedmiotu
lektura monograficzna
Koordynatorzy przedmiotu
Efekty kształcenia
K-W01, K_W09, K_W011
Kryteria oceniania
Warunkiem przystąpienia do egzaminu jest zaliczenie pisemnego kolokwium z laboratorium;
Formy oceny pracy studenta: egzamin pisemny
Literatura
Literatura podstawowa:
1. Z.Bojarski, M. Gigla, K. Stróż, M. Surowiec, „Krystalografia – podręcznik wspomagany komputerowo”, PWN, Warszawa 1996
2. Z. Kosturkiewicz, „ Metody krystalografii” Wydawnictwo Naukowe UAM, Poznań 2000, 2004.
3. P.Luger, Rentgenografia strukturalna monokryształów”, PWN Warszawa 1989
Literatura uzupełniająca:
Publikacje w czasopismach naukowych
Więcej informacji
Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb: